可變角原位25次衰減全反射ATR

FT-IR或色散儀高靈敏度ATR檢測

特點

·           入射光30°-60°可調(diào)

·           25次反射

·           適用于FT-IR或色散儀

·           樣品架配兩個引腳

·           標準 3” x 2” 樣品架盤

·           多種晶體可選

·           可互換樣品架(固體，液體，凝膠)

25 次反射 ATR

可變?nèi)肷涔?5次反射ATR (P/N GS11000)是一款豎直方向的ATR晶體附件，入射光在30度-60度快速簡單可調(diào)。通過調(diào)整樣品架及晶體裝置到適宜的位置，架體后方保持與刻度板設定角度相符。

標準晶體架(P/N GS11001)用于固體樣品，可選配液體架(P/N GS11003)及凝膠架(P/N GS11002)。

為測量25次反射需保證樣品覆蓋梯形晶體正反兩面。

KRS-5是標配的ATR附件晶體，可選配一系列其他晶體如：ZnSe, Ge 及Si 以擴展樣品操作能力及附件

研究范圍。

四塊反射鏡通過調(diào)整角度及傾斜度反射、收集晶體的紅外光。附件配備標準的3” x 2”架盤適配于市面上儀器的樣品室，另外底座一角配備了支撐腳。支撐腳高度可調(diào)，保證附件在樣品室內(nèi)的平穩(wěn)。支撐腳可通過翼形螺母鎖住

應用

? 固體? 液體? 凝膠

? 涂層及薄膜多深度研究

訂購信息

GS11000 入射光可調(diào)25次反射ATR附件

含固體架及45度角KRS-5 晶體

可選配件

GS11001 25次反射ATR固體架

GS11002 25次反射ATR凝膠架

GS11003 25次反射ATR液體架

耗材

GS11004 KRS-5 晶體 (45°)

GS11006 Ge 晶體(45°)

GS11009 Si 晶體(45°)

GS11014 ZnSe 晶體(45°)

GS11008 PTFE 墊圈液體架用（1大、1小，5套）